目錄:筱曉（上海）光子技術有限公司>>光纖/光纖器件/光纖處理>>光纖研磨拋光/切割剝離器>> IF-12-01001ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200u
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
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| 組件類別 | 其他 |
ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
ProView XD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產線設計的，在生產線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。在許多情況下，干涉條紋圖案可以非常復雜地進行分析和理解。為了便于使用和優(yōu)化檢查速度，ProView XD包括高度先進的全自動功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。軟件會自動指示端面的半徑和角度。為了進一步簡化檢查過程，ProView XD可以設置為“通過/未通過"模式。此功能允許操作員通過圖像上的顏色代碼簡單地確定端面質量。除了角度和半徑檢查外，ProView XD還可用于測量其他一些特性，如光纖直徑和定義點之間的距離等。ProView XD-用于連接器，提供預裝支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80連接器支架。還有一個可選的通用v形槽夾具組件可用于檢查裸光纖。可根據(jù)需要提供定制的支架或夾具。ProView XD設計緊湊，是生產臺的理想選擇，可與切割機、拋光臺、超聲波清潔器和其他準備工具并排使用。ProView XD通過USB 3.0電纜連接并供電，由外部PC（不包括在內）托管。
ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
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