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干貨分享--壓片法相對粉末樣品直接測試用于XRF熒光光譜儀的優勢?

閱讀:1102      發布時間:2022-8-23
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壓片法相對于粉末樣品直接測試用于XRF熒光光譜儀有什么優勢?

xrf pressed pellet machine.png

X射線熒光光譜法(XRF)對樣品材料的制備高度敏感。壓片的水泥樣品顯示出較高的信噪比,與松散粉末形式相比,這可以檢測最輕的元素。


當定量元素組成時,在預期值和散粉樣品之間觀察到明顯的差異。當使用同一批水泥來制備壓制顆粒時,這些差異會消失。

XRF光譜分析信號由兩個部分組成:

在特征波長處的X射線發射峰與所分析樣品的原子內發生的電子躍遷相對應

由松散結合的外部電子散射的X射線的連續背景,在該電子上疊加了發射峰

這些特征性X射線通常是由于樣品表面以下1-1000 µm深度處的表面原子所致。 確切的深度取決于其原子量。 如果元素較輕,則較重元素更難檢測。

背景散射和發射峰的強度均受粒度,礦物成分和顆粒密度的影響。 但是,將樣品研磨至非常細的顆粒大小,然后壓縮成光滑平整的XRF顆粒,可以減少背景散射并改善對排放物的檢測。

顆粒和散粉中重元素和輕元素的比較


使用疏松粉末獲得的光譜顯示出與壓片的顆粒明顯不同。 顆粒顯示出更高的信噪比,這使得最輕的元素可以輕易地在背景之上被檢測到。 由于不需要薄膜,因此可以在真空條件下進行測量,從而進一步改善了顆粒的性能。


對于準確定量至關重要的是,用戶可以清楚地檢測出樣品中的所有元素。 在散粉樣品中,較輕的Al,Mg和Na元素的低估會導致水泥中Fe和Ca的高估。 另一方面,樣品沉淀物提供的定量與標準實驗室實驗確定的范圍一致。



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