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NS-3500是一種可靠的三維掃描系統。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，可以為半導體晶片，FPD產品，MEMS...

NS-3500G 是一種可靠的三維非接觸式掃描儀。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，可以為半導體晶片，FPD產品...

NS-3500L 是一種準確、可靠的大面積高速3D激光掃描儀。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，可以為半導體晶片...

NS-3500 Solar 是韓國Nanoscope Systems 針對半導體晶圓質量檢測設計的一種準確、可靠的測量系統，通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實...

NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發的一款高速3D顯微鏡。與傳統的3D探針輪廓儀相比較，N...

NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發的一款高速3D顯微鏡。與傳統的3D探針輪廓儀相比較，N...

NS3600 激光三維表面輪廓儀是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料科學研究所研發的一款激光共聚焦顯微鏡。NS3600 采用的是638n...