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首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>半導體材料測試>>CV測試

  • 汞探針測試 參考價:面議

    LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。
    型號: LEI Model... 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    汞探針測試
    2025/6/24 15:47:40650
  • 汞CV測試系統 參考價:面議

    汞CV測試系統,用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;MCV-530L可測最大200mm的樣品。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    CV測試
    2025/6/24 15:45:58812
  • CV-1500非接觸CV測試系統 參考價:面議

    CV-1500,用于測試界面和介電層的科研平臺,基于SDI Corona-Kelvin技術,可以進行非接觸C-V/I-V測試。
    型號: 廠商性質:生產商所在地:上海市 對比
    CV測試
    2025/6/24 15:43:43880

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