顯微分光膜厚儀是一種廣泛應用于光學材料研究和工業生產領域的高精度儀器，其主要功能是測量薄膜的厚度。
其主要特點包括：
(1)高精度：采用精密儀器算法，能夠實現亞納米級的膜厚測量，保證了測量結果的準確性和可靠性。
(2)非接觸式測量：薄膜在測量過程中無需直接接觸儀器，避免了外力對樣品造成的影響，同時保護了樣品的完整性。
(3)快速測量：具有快速的測量速度，可實時顯示膜厚數據，并能夠進行自動化掃描和測量。
使用膜厚儀之前，需要先清潔檢測頭，避免灰塵或油脂對測試結果的干擾。清潔時應注意以下事項：
1. 手柄和測試頭禁止強烈碰撞、振動或撞擊，以免影響測量精度。
2. 使用專用布清潔，禁止使用含有溶劑或刺激性強的清潔劑。
3. 清潔時應輕輕擦拭，防止損傷檢測頭。如果不慎弄臟了檢測頭，可用濕紙巾擦拭，但需注意不要使用含水分的清潔劑或水。
存放膜厚儀時需注意以下事項：
1. 將膜厚儀放置在清潔、干燥、不受陽光直射和高溫潮濕影響的地方。
2. 對于不使用的膜厚儀，需將電池取出。
3. 長期不使用的膜厚儀需進行定期充電，保證電池的壽命和穩定性。
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