日本NIKON尼康顯微鏡 LV150N，ECLIPSE 顯微鏡機身采用模塊化制造，可滿足多領(lǐng)域的工業(yè)應(yīng)用，其中包括半導(dǎo)體器件、封裝、FPD、電子器件、材料和精密模具制造等。 ECLIPSE LV 系列經(jīng)過不斷的發(fā)展完善并配備了新的光學(xué)系統(tǒng)和功能，可根據(jù)觀察方法和目的 選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。 用戶可選擇使用電動和手動操控模式以及反射照明模式和反射／透射組合照明模式以滿足任

工業(yè)顯微鏡 LV150N/LV150NL/LV150NA

新的光學(xué)系統(tǒng)令 ECLIPSE煥發(fā)新風(fēng)采 

ECLIPSE 顯微鏡機身采用模塊化制造，可滿足多領(lǐng)域的工業(yè)應(yīng)用，其中包括半導(dǎo)體器件、封裝、FPD、電子器件、材料和精密模具制造等。 
ECLIPSE LV 系列經(jīng)過不斷的發(fā)展完善并配備了新的光學(xué)系統(tǒng)和功能，可根據(jù)觀察方法和目的 選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。 
用戶可選擇使用電動和手動操控模式以及反射照明模式和反射／透射組合照明模式以滿足任何應(yīng)用需求。

CFI60-2 經(jīng)過改進的光學(xué)性能 
以*的高數(shù)值孔徑和長工作距離設(shè)計理念而著稱的尼康 CFI60 光學(xué)系統(tǒng)

經(jīng)過進一步改進，具有長工作距離、色差校正性能和更輕的重量。

輕松的操作 與數(shù)碼相機集成

現(xiàn)可使用數(shù)碼控制裝置來檢測包括物鏡信息在內(nèi)的顯微鏡信息，以及對顯微鏡進行電動操作，以更高效地進行觀察和圖像拍攝

觀察方法

可支持多種觀察方法：明場、暗場、偏光、微分干涉、落射熒光和雙光束干涉測量等。

日本NIKON尼康顯微鏡 LV150N，ECLIPSE 顯微鏡機身采用模塊化制造，可滿足多領(lǐng)域的工業(yè)應(yīng)用，其中包括半導(dǎo)體器件、封裝、FPD、電子器件、材料和精密模具制造等。 ECLIPSE LV 系列經(jīng)過不斷的發(fā)展完善并配備了新的光學(xué)系統(tǒng)和功能，可根據(jù)觀察方法和目的 選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。 用戶可選擇使用電動和手動操控模式以及反射照明模式和反射／透射組合照明模式以滿足任