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德國 威格勒WENGLOR 光學傳感器 激光測距儀，該傳感器采用高分辨率CMOS線性陣列和DSP技術工作并借助測量角度確定距離。通過這樣，能夠確定材料、顏色和亮...

德國 威格勒WENGLOR 光學傳感器 激光測距儀，傳感器采用高分辨率的CMOS光電元件和DSP技術，通過測量角度來確定距離。探測范圍：660mm

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，行程為80、170和250毫米，增量或絕對式線性編碼器，橫截面：80毫米 × 25毫米

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，超分辨率顯微鏡，生物技術，掩模/晶圓定位，樣本定位，干涉測量，計量

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，超分辨率顯微鏡，生物技術，掩模/晶圓定位，樣本定位，干涉測量，計量

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，超分辨率顯微鏡，生物技術，掩模/晶圓定位，樣本定位，干涉測量，計量

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，超分辨率顯微鏡，掩模/晶圓定位，干涉測量，測量技術，生物技術，顯微操縱

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，共聚焦顯微鏡，掩模/晶圓定位，表面測量技術，納米壓印，顯微操縱，圖像處理/穩(wěn)定

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，共聚焦顯微鏡，掩模/晶圓定位，表面測量技術，納米壓印，顯微操縱，圖像處理/穩(wěn)定

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，掃描顯微鏡，共聚焦顯微鏡，掩模/晶圓定位，表面測量技術，納米壓印，顯微操縱，圖像處理/穩(wěn)定

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，應用于掃描探針顯微鏡，原子力顯微鏡，掃描和篩選

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，用于納米級定位和光纖校準的緊湊型多軸壓電系統(tǒng)

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，用于納米級定位和光纖校準的緊湊型多軸壓電系統(tǒng)

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，用于納米級定位和光纖校準的緊湊型并聯(lián)運動壓電系統(tǒng)

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，應用于高分辨率顯微鏡，篩選，共聚焦顯微鏡，生物技術

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，應用于掃描顯微鏡，測量技術，測試程序和質量保證，光子，光纖定位

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，應用于掃描顯微鏡，測量技術，測試程序和質量保證，光子，光纖定位

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，1.8納米分辨率，137毫米長度，搭載應變式傳感器

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，搭載直流電機，用于六足位移臺，利用直角坐標系進行位置輸入，控制器處理坐標轉換。

德國PI Physik Instrumente 光學實驗位移臺，0.02%線性誤差，應變片式傳感器（可選壓阻式傳感器，電容式傳感器）