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日本santec可變波長光學元件掃描測試系統

掃頻測試系統

通過結合可變波長光源（TSL系列），功率計（MPM），偏振控制單元（PCU-100）和定制軟件，在研發和生產線上對IL / WDL / PDL進行有效的測量和評估你能行的。

多站測量

通過將掃頻測試系統與多分支單元相結合，可以進一步提高檢查和評估的效率。

總覽

掃頻測試系統結合了可變波長光源（TSL系列），多端口功率計（MPM系列），偏振控制單元（PCU-100）和軟件，是光學設備和生產現場研發的理想選擇。這是一個評估工具。通過實時參考可變波長光源的輸出功率同時獲取通過DUT傳輸的光功率，可以高精度地測量IL / WDL / PDL。該系統使用穆勒矩陣方法來計算PDL。

特性

• 實時電源參考
• 高精度的IL / WDL / PDL特性測量-
  高IL重現性<±0.02
  dB-高PDL重現性±0.01 dB
• 縮放算法-
  具有高波長分辨率和波長精度
  的測量-減少測量時間
• 可以進行多通道測量
• 圖形用戶界面和DLL支持（Visual Studio）-
  易于設置測量參數-
  數據分析

WDL（與波長有關的損耗）測量

80 dB或更高的高動態范圍測量

我們的可變波長光源TSL系列配備了具有創新設計的諧振器，可減少ASE光學噪聲，同時實現很高的信噪比和很高的光學輸出功率。因此，該系統可以同時評估具有高動態范圍特性的光學組件的多個端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器（例如FBG）的測量數據。

波長精度高+/- 3 pm

由于TSL系列標配了波長監視器，因此可以高精度地測量光學組件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體吸收線的測量波長，可以看出以*的測量精度可以進行測量。

波長分辨率低于0.1 pm

該系統不僅可以用于WDM的光學組件，而且可以用于窄線寬濾光片，以高波長分辨率測量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設備的測量結果，您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進行測量。

運用

• 光學組件，模塊評估-
  波長選擇開關（WSS），AWG，波長阻擋器-
  波長可變濾波器，交織器，FBG，耦合器，隔離器，光學開關
  -DWDM組件
• 光子器件/微腔諧振器評估
• 光譜測量

配置示例

1. PDL（極化相關損耗）測量

• • 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
  • 偏光控制器PCU-100
  • 光功率計MPM-210

2. WDL（波長相關損耗）測量 ??

• 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
• 光功率計MPM-210

3. WDL（波長相關損耗）測量（其他公司的功率計）

• 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
• 掃頻處理單元SPU-100
• 光功率計（需要記錄功能）
  示例）Keysight 816 x A / B，774 x A功率計
  光電探測器+ DAQ

日本santec可變波長光學元件掃描測試系統

多站點檢測

在多站測量系統中，可變波長光源，偏振控制器和多分支單元用作服務器，并且光和觸發信號從它們分支并發送到每個站。每個站僅包含一個功率計和一臺PC。

在測量期間，服務器的可變波長光源連續掃描預定范圍。因此，每個站可以隨時獨立于其他站進行測量。

這樣，該系統可以在保持高精度特性的同時進一步提高檢查和評估的效率。

• 可調諧激光器TSL-710 / TSL-550
• 偏光控制器PCU-100
• 多分支單位/ MBU-100
• 光功率計MPM-210