日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

產品特點

• 樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
• 通過光電導衰減法進行非接觸式測量
• 通過示波器和PC進行數據處理（軟件）

測量規格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內）

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

產品特點

• 樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
• 通過光電導衰減法進行非接觸式測量
• 通過示波器和PC進行數據處理（軟件）

測量規格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內）