日本stil線掃描光譜共焦傳感器MPLS-DM

技術特點

• 有兩束光纖，光學頭連接到光電控制器。
• 各種光學頭由不同測量范圍、軸向分辨率和景深來定義。
• 連接到MPLS-DM的光學頭可獨立進行輪廓測量，無需任何外部轉換。
• 3D測量可以通過傳輸表或生產線獲得。
• MPLS-DM提供每秒360 000個測量點的非常高的測量速率，每秒2000行。每條線由180個離散點組成。
• 此性能是高水平技術集成，結合STIL經驗知識和先進制造工藝優化的結果。
• MPLS-DM傳感器提供即時測量配置文件，每個配置文件包括180個同時采集的點。

優勢

MPLS-DM控制器 ?

l 市場上第yi臺“線”光譜共聚焦傳感器。

l 投射到樣品表面為一條線，由180個離散點組成，每點對應一條獨立測量通道。

l 大線率是2000 lines/秒。

l 高工作量（360000點/秒）

l 由千兆以太網進行數據傳輸

l 高分辨率，高精度

l 可測量任何材料

l 對外部環境光線不敏感

l 兼容所有光學頭

l 同步方式：主和從

l 借助DLL工具，易于管理

參數

日本stil線掃描光譜共焦傳感器MPLS-DM

技術特點

• 有兩束光纖，光學頭連接到光電控制器。
• 各種光學頭由不同測量范圍、軸向分辨率和景深來定義。
• 連接到MPLS-DM的光學頭可獨立進行輪廓測量，無需任何外部轉換。
• 3D測量可以通過傳輸表或生產線獲得。
• MPLS-DM提供每秒360 000個測量點的非常高的測量速率，每秒2000行。每條線由180個離散點組成。
• 此性能是高水平技術集成，結合STIL經驗知識和先進制造工藝優化的結果。
• MPLS-DM傳感器提供即時測量配置文件，每個配置文件包括180個同時采集的點。