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薄膜材料不均勻光斑檢測技術

材料檢測裝置M-CAP V2是充分利用圖像處理技術開發的平原地面外觀檢測裝置。在保持傳統易用性的同時，實現了更高的速度和更高的分辨率。除了檢測針孔、異物污染和污垢附著等小缺陷外，我們不會忽略薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區分的缺陷。

特征

• 無論安裝位置如何，都可以靈活布局
  取消了一體機的主體控制面板，由各功能的組件構成。
  它提高了安裝的自由度，有助于有效利用工廠空間。

• 追求用戶友好的易用性
  采用液晶顯示器和易于使用的對話方式，操作簡單。

• 更新成像系統以實現高速和高分辨率通過
  采用新開發的數碼相機，實現了高速傳輸過程中清晰的圖像和微小缺陷的檢測。

• 標配
  原裝 LED 照明燈 采用實現高亮度和高顯色性的 LED 照明燈。
  也可以選擇魚眼（凝膠）和黑點，由于特殊的結構很難判斷。

• 即使
  放大有缺陷的圖像也能清晰顯示通過利用人工智能的超分辨率技術，即使放大和顯示有缺陷的圖像，圖像也不會變得粗糙。

• 通過廣泛的數據管理進行有效的質量控制
  可以實時匯總每列和距離的缺陷數量，并且可以將數據輸出為 PDF 文件。
  它還通過網絡支持數據管理功能，有助于提高質量控制效率和生產力。

• 檢查功能的顯著擴展
  通過同時檢查多達 5 個電路工藝，大大提高了檢查性能。
  線性缺陷檢測電路增強了對皺紋、薄膜裂紋、毛發、絨毛等的檢測。
  此外，光缺陷檢測電路增強了對大面積光斑和不均勻光斑的檢測。

應用領域

• 應用
  薄膜、片材、無紡布、金屬、各種涂膜等。

• 適配機
  貼膜、制片機等

缺陷顯示示例