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透過率測試儀

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  • 透過率測試儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 MCPD
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
在線詢價 收藏產品

更新時間:2020-06-12 16:03:25瀏覽次數:1562

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產品簡介

按探測器 CCD 光譜范圍 紫外
價格區間 面議 應用領域 醫療衛生,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣
MCPD系列透過率測試儀能對紫外、可視、紅外區域的光譜進行高速、高靈敏度的檢測。共12個波長,可配合客戶的需求與測量用途,選擇適合的檢測器。

詳細介紹

 

 

 

MCPD系列透過率測試儀

(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)

提供豐富選配套件以及客制化光纖,可依據安裝現場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環境下的即時測量系統

 

 

膜厚測量

 

 

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

02.jpg03.jpg

膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

04.jpg

影印機感光鼓膜厚度量測

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

01.jpg02.jpg

LB膜測量

01.jpg

蒸餾膜測量

02.jpg03.jpg

多點膜厚測量

  • 半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

  • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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