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產品簡介
突起路標反光強度系數測試儀
UV-A型單通道紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A型單通道紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
詳細介紹
UV-A型單通道紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
技術指標
（1）UV365探頭
λ：320~400nm；λp=365nm
（2）UV420探頭
λ：375~475nm；λp=420nm
(單通道任選一種，如不加申明，默認為UV365探頭)
輻照度測量范圍:0.1～1.999×105μW/cm2
單通道紫外輻照計
紫外帶外區雜光
UV365：小于0.02％
UV420：小于0.02％
精度:±10%（相對于國家標準）
響應時間:1秒
使用環境:溫度20±20℃,溫度<85%
尺寸和重量:180×80×36（mm）,0.2kg
電源:9V積層電池一只