目錄:深圳市達瑞博電子有限公司>>量測>>電子束量測>> CG 4100臨界尺寸掃描電子顯微鏡
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,綜合 |
|---|
HITACHI CG 4100臨界尺寸掃描電子顯微鏡（CD-SEM）
分辨率：1.8 nm產量：42片/小時MAM 時間：2.8 秒級著陸精度：±1μm
Hitachi CG 4100 是一款關鍵尺寸掃描電子顯微鏡 （CD-SEM），專為半導體和納米技術領域的高性能應用而設計。主要規格和功能包括：
分辨率：CG 4100 提供高分辨率成像功能，分辨率低至 1.8 納米，這對于詳細分析材料和半導體器件中的小特征至關重要。
吞吐量：該系統每小時可處理多達 42 片晶圓，適用于大批量制造環境。
載物臺精度：載物臺著陸精度為 ±1 微米，確保精確定位以實現一致的測量。
高壓操作：顯微鏡在高達150kV的加速電壓下工作，為更好的成像和分析提供高能量。
成像和分析：CG 4100 配備先進的電子光學元件和強大的電子槍，可提供出色的圖像清晰度和清晰度。它還包括自動對焦和導航系統，以提高易用性和效率。
軟件和自動化：CG 4100 具有智能自動化功能，包括自動機械臂、圖像分析軟件和可定制的配置，以滿足各種用戶需求。這樣可以快速準確地收集和分析數據。
模塊化設計：模塊化設計允許使用不同的探測器和載物臺進行可定制的配置，以適應特定應用，例如吸收和發射光譜、高分辨率成像和能量色散光譜。
這些特性使 Hitachi CG 4100 成為各種科學和工業應用中詳細 3D 成像和分析的理想選擇
2
化工儀器網