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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置 ,宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
詳細(xì)介紹
| YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置 |
| 宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 |
| 產(chǎn) 品 簡(jiǎn) 介 |
| YP-150I對(duì)應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片 |
| YP-150I照度范圍φ30 |
| YP-250I可對(duì)應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片 |
| YP-250I照度范圍φ60 |
| YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型 |
| 根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 |
| 可檢測(cè)各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物/劃痕 /拋光不均 / |
| 霧狀/ 劃傷等 ，照度在400000Lx以上 |
| 產(chǎn) 品 特 點(diǎn) |
| 1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia). |
| 2. 使用鹵素?zé)糇鳛楣庠?，色溫高達(dá)3400K，照光和顏色均一了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。 |
| 3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2 到 1/3 |
| 4. 光束直徑由鏡片調(diào)整30-50mm 之間調(diào)整 |
| 5. 底部開光，調(diào)整照明勘察器高度，操作簡(jiǎn)便，可控制光量 |
| 產(chǎn) 品 用 途 |
YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來
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