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美國MAS超聲粒度分析儀

  • 美國MAS超聲粒度分析儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
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更新時間:2021-08-18 14:24:16瀏覽次數(shù):2195評價

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美國MAS超聲粒度分析儀,樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;

美國MAS超聲粒度分析儀

美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品,解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題,如光學(xué)方法必須要對樣品進(jìn)行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 。目前,美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成,可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細(xì)準(zhǔn)確的粒度分布。

主要特點(diǎn):

1)能分析多種分散物的混合體;

2)無需依賴Double Layer模式,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

5)可準(zhǔn)確測量無水體系;

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;

8)具有自動電位滴定功能;
美國MAS超聲粒度分析儀

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)被測樣品無需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)不需定標(biāo);

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需定標(biāo);

2)能測更寬的粒徑范圍;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

6)可適用于無水體系;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%;

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影響測量;

6)對流(convection)不影響測量;

7)可準(zhǔn)確測量無水體系;

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;

3)Zeta電位測量范圍:+/-500 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

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