武漢-變壓器介質(zhì)損耗測試儀*

產(chǎn)品簡介：

介損測量是絕緣試驗中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測量是衡量其絕緣性能的基本方法。

武漢-變壓器介質(zhì)損耗測試儀*突破了傳統(tǒng)的電橋測量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測試速度快、精度高、全自動數(shù)字化、操作簡便；電源采用大功率開關(guān)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動加壓，可提供高10千伏的電壓；自動濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場測試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。 

技術(shù)指標(biāo)：

１．環(huán)境溫度：０～４0℃（液晶屏應(yīng)避免長時日照）

２．相對濕度：３0％～７0％

３．供電電源：電壓：２２０Ｖ±１0％，頻率：５0±１Ｈz

４．外形尺寸：長×寬×高＝490mm×300mm×390mm

５．重量：約18Ｋg

６．輸出功率：1ＫVA

７．顯示分辨率：４位

８．測量范圍：

介質(zhì)損耗（tgδ）：０-50％

電容容量（Cx）和加載電壓：

２.5ＫＶ檔：≤ ３00nＦ（ ３00000ｐＦ）

３ＫＶ檔：≤２00nＦ（ ２00000ｐＦ）

５ＫＶ檔：≤ ７6nＦ（ ７6000ｐＦ）

７.５ＫＶ檔：≤ ３4nＦ（ ３4000ｐＦ）

１０ＫＶ檔：≤ ２0nＦ（ ２0000ｐＦ）

９．變壓器介質(zhì)損耗測試儀基本測量誤差：

介質(zhì)損耗（tgδ）： １％±０.０7％（加載電流２０μＡ～５00ｍＡ）正接

介質(zhì)損耗（tgδ）： ２％±０.０9％（加載電流　５μＡ～２0μＡ）反接

電容容量 （ Cx）：１.５％±１.５pＦ

儀器結(jié)構(gòu)：

儀器為升壓與測量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓２.5KＶ～１０ＫＶ五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測量時無需任何外部設(shè)備。接線與ＱＳＩ電橋相似，但比其方便。

圖一為儀器操作面板圖，圖二為儀器接線端面圖。

⑴ 顯示窗————————液晶顯示屏。

⑵ 試驗電壓選擇開關(guān)———當(dāng)開關(guān)置于“關(guān)”時，儀器無高壓輸出。

⑶ 操作鍵盤———————選擇測量方式、起動、停止、打印等操作。

⑷ 電源插座——————— 保險絲用５Ａ。

⑸ 電源開關(guān)———————電源通斷。

⑹ 起動燈————————指示高壓輸出。

⑺ 打印機(jī)————————打印測試結(jié)果。

★★★★⑻ 接地端子——————使用前，必須將該端子可靠接地！！！

★⑼測量電流輸入端ＩＸ———有兩個出線頭，中心頭（紅色，有ＣＸ標(biāo)記）應(yīng)與被試品一端相接，屏蔽頭（黑色，有Ｅ標(biāo)記）是儀器內(nèi)部高壓輸出一個參考端，在正接法測量時應(yīng)接地；在反接法測量時應(yīng)浮空；外接法參見“外接高壓法”。

★⑽ 標(biāo)準(zhǔn)電流輸入端ＩＮ———僅當(dāng)外接標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行測量時才用，該端應(yīng)與外接 標(biāo)準(zhǔn)電容器一端相連。ＩＮ必須小于１00ｍＡ！！！

⑾ 測量高壓輸出端ＵＨ——只有一個大鐵夾出線頭（有ＵＨ標(biāo)記），與被試品一端 相接。

儀器檢定

標(biāo)準(zhǔn)損耗器檢定：

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度，應(yīng)使用比對法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對標(biāo)準(zhǔn)。儀器應(yīng)選用“內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)”和“RC串聯(lián)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2．用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當(dāng)值。

3．抗干擾能力

設(shè)置一個回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

3．1應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

3．2儀器啟動后會使220V供電電路帶有測量頻率分量，如果該頻率分量又通過干擾電流進(jìn)入儀器，則無法檢驗儀器的抗干擾能力。

3．3不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾，因為這樣很容易產(chǎn)生近距離*放電，這種放電電阻是非線性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。