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詳細摘要： 德國CS INSTRUMENTS是一款集成多種功能的創新測量設備。該設備門為現場應用而設計，配有集成式可充電電池以及經過驗證和測試的傳輸單元，并配有防震且小巧的...

詳細摘要： SGA91 - CO煙氣分析儀煙氣分析儀方便直觀的零校準方式 背景光便于現場讀數操作簡單,即時顯示所測氣體濃度方便直觀的零校準方式背光便于現場讀數型壽命為3年的...

詳細摘要： 高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000也能用來改變物體表面的疏水性，有助于部件和表面的化學改性，經過氧化和硬化處理的探針有利于在掃描過程中保持探針的幾何...

詳細摘要： 日立紫外/臭氧清洗設備ZONETEM II無油真空系統（干泵3.8L/min）3min內達到所需真空度清洗系統:2種清洗模式真空清洗和真空儲存清洗時間范圍為1m...

詳細摘要： 日立紫外清洗設備真空系統:無油真空系統（隔膜泵9L/min）3min內達到所需真空度真空范圍為100-500torr(100步)清洗倉:樣品尺寸: 100mm ...

詳細摘要： 與機械拋光不同，離子研磨系統處理樣品而不會變形或施加機械應力。因此，用于預處理樣品的離子銑削系統的應用范圍不斷擴大，不僅包括掃描電子顯微鏡（SEM），還包括原子...

詳細摘要： 日立離子研磨裝置I混合模式：兩種研磨配置斷面加工：將樣品斷面研磨光滑，便于表面高分辨觀察平面研磨：不同角度有選擇地，大面積，均勻地研磨5 mm的平面，以突顯樣品...

詳細摘要： 日立高新掃描電子顯微鏡主機與供電單元可分離，安裝非常靈活。 近年來，掃描電鏡觀察表面精細結構及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產線、品保檢驗線...

詳細摘要： 日立高新場發射掃描電子顯微鏡　　?利用電子槍轟擊后的高亮度穩定期，高分辨觀察和分析兼顧　　?大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)　　?減輕...

詳細摘要： 緊湊型毛細管電泳測序儀日立臺式掃描電鏡標配低真空模式，簡化樣品前處理 采用低真空，不導電樣品也無需噴金，可以直接觀察，大大提高了工作效率。全自動聚焦和亮度對比度...

詳細摘要： 日立白光干涉顯微鏡搭配了符合ISO 25178標準的分析工具 “ISO 25178參數對比工具"。在ISO 25178標準中規定了評估表面性狀的32個項目的參數...

詳細摘要： 日立臺式掃描電鏡標配低真空模式，簡化樣品前處理 采用低真空，不導電樣品也無需噴金，可以直接觀察，大大提高了工作效率。全自動聚焦和亮度對比度調整，只需按幾個按鈕就...

詳細摘要： 日立掃描探針顯微鏡控制器此系列開發出一種的處理方法，可預測并調整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數。其通過對樣品表面的形狀、掃描區域、使用的懸臂及掃描儀等的綜合...

詳細摘要： 多功能掃描探針顯微鏡系統AFM100 Plus/AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的，并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高...

詳細摘要： 這次推出的臺式紫外可見近紅外分光光度計UH5700，融合了日立精密的光柵技術，使用了新研發的蝕刻衍射光柵，既可測定液體樣品的吸收光譜，也可測定固體樣品的反射和透...

詳細摘要： 日立熒光分布成像系統1. 可以測定樣品的光譜數據（反射光、熒光特性）在不同光源條件下（白光和單色光）拍攝樣品圖像，（區域：Φ20mm、空間分辨率：0.1...

詳細摘要： 日立火焰原子吸收分光光度計190nm~900nm全譜采用塞曼背景校正技術，可扣除所有背景干擾（包含結構背景）全時雙光束技術，樣品信號和參比信號同時檢測，可獲得穩...

詳細摘要： 日立熒光分光光度計F-7100新設“高階光過濾"功能，可在多變量分析三維熒光光譜數據時，將不含二階光區域的數據至 Excel 表。與不輸出比激發光波長要短的波長...

詳細摘要： 日立雙光束紫外可見分光光度計特點:(1)性能---可獲得高精度的數據：光源使用長壽命閃爍氙燈光源品質期長達7年*1，降低運行成本雙光束光學系統與單光束光學系統相...

詳細摘要： 日立熒光分光光度計三維時間掃描模式追蹤監控化學反應過程顯示出來。增大檢測時間范圍，能夠測定持續較長時間發光的磷光。可以使用濃度范圍高達6個數量級的數據生成校正曲...