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*緊湊的設計針對超出標準TEM Cell頻率范圍的中等精度測量進行了優化。 EM601-6的工作原理與TEM Cell相同。測試腔體內的E-H場與輸入電壓成比例，與小室的高度成反比。當輻射物嵌入小室內部時，輻射波經傳輸線引導，朝著小室的輸入/輸出端口移動，并通過諸如頻譜分析儀的接收器在端口進行輻射信號接收。利用這種方法，可以定量測量來自輻射物的RFI。由于該設備工作頻段寬，因此可應用在EMI，EMS，接收機靈敏度測試等很多領域。

 特征

• 高達6 GHz帶寬（超過普通TEM的 1 GHz帶寬）
• 可承受高達5 kV的高壓脈沖注入，進行瞬態場測試

應用 ： ?

• IC的電磁抗擾度測試
• IC的電磁輻射測試
• IC的ESD場敏感度測試
• IEC 61967-2：2005集成電路 – 150 kHz至1 GHz的電磁輻射測量 – 第2部分：輻射發射的測量 – TEM單元和寬帶TEM單元法
• IEC 61967-8：2011集成電路 – 150 kHz至3 GHz的電磁輻射測量 – 第8部分：輻射發射的測量 – IC帶狀線方法
• IEC 62132-8：2012集成電路 – 電磁抗擾度測量，150 kHz至3 GHz – 第8部分：輻射抗擾度測量 – IC帶狀線方法
• SAE 1752-3集成電路輻射發射的測量 – TEM /寬帶TEM（GTEM）單元法; TEM Cell（150 kHz至1 GHz），寬帶TEM單元（150 kHz至8 GHz） 

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