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ES621SeriesDynamic IV-CurveTLPSystem）
*的動態(tài)電流電壓曲線傳輸線脈沖系統(tǒng)

ES620便攜式脈沖 IV-曲線測試分析系統(tǒng)是我們2015年研發(fā)的新一代產(chǎn)品。這是一款*的便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統(tǒng)，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如 TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT, 和 低壓浪涌。系統(tǒng)會檢測脈沖期間皮秒或納秒級的瞬態(tài)電壓和電流波形，并測試脈沖前、后被測器件的狀態(tài)（漏電流，擊穿電壓，偏置電流，靜態(tài)IV曲線，等）。可測的DUT包括靜電防護(hù)器件，半導(dǎo)體，電路模塊，觸摸板傳感器等。
主要系統(tǒng)解決方案：
1.1系統(tǒng)性傳輸線脈沖（TLP）TLP測試和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014測試標(biāo)準(zhǔn)。ES620系統(tǒng)能夠向器件注入高質(zhì)量矩形波脈沖，同時記錄流經(jīng)器件的電流和器件兩端電壓。測試結(jié)果能夠提供脈沖IV曲線，使用戶能夠表征器件在納秒級的瞬態(tài)響應(yīng)。系統(tǒng)還具有*的器件失效自動化檢測方法，例如漏電流測試，靜態(tài)IV曲線，熔斷和火花放電。
1.2超快TLP（vf-TLP）Vf-TLP測試和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007測試標(biāo)準(zhǔn)。vf-TLP 測試用于模擬CDM速度的靜電放電，捕捉高速（大約100ps上升沿）狀態(tài)下器件的電流和電壓。用戶可以通過這種方法測試器件的響應(yīng)速度和峰值電壓。
1.3人體金屬模型（HMM）HMM測試和分析功能符合ANSI/ESD SP5.6-2009測試方法。該方法可以替代IEC61000-4-2中系統(tǒng)級ESD測試方法，用于測試IC。當(dāng)測試低阻抗器件或者晶圓時，系統(tǒng)的該測試功能可以提供符合IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的理想波形，并且避免許多靜電放電槍測試時可能出現(xiàn)的問題，例如可重復(fù)性差，放電位置不**，由未**繼電器產(chǎn)生的EMI互擾，需要設(shè)置大接地平板和耦合板。

應(yīng)用領(lǐng)域：
晶圓級ESD測試PCB/封裝級ESD測試系統(tǒng)/電路ESD測試安全工作區(qū)（SOA）測試充電恢復(fù)時間測試查分ESD脈沖注入觸摸屏ITO微帶線熔斷測試觸摸屏ITO微帶線火花放電測試TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD STM5.5.1-2008標(biāo)準(zhǔn)Vf-TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD SP 5.5.2-2007標(biāo)準(zhǔn)對于低阻抗器件，HMM的注入電流脈沖與IEC61000-4-2波形

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