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ES62X-LVS
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更新時間：2024-08-13 08:50:58瀏覽次數(shù)：758次
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ES62X-LVS Low Voltage Surge System
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
|---|
低壓浪涌測試系統(tǒng)脈沖發(fā)生器的設計和脈沖輸出方法保證了被測器件端的波形性能。系統(tǒng)能夠獲取浪涌脈沖注入時的的瞬態(tài)電流和電壓波形，用于分析包括ESD保護器件開啟電壓等級在內的被測器件ESD特性。通過對比脈沖注入時的電壓波形變化，還能夠判定故障等級。
1V至500V電壓范圍內波形干凈，線性度高
*隔離的放電電路
軟件控制，自動化測量
損傷閾值自動監(jiān)測（DC漏電測量及靜態(tài)IV掃描）
基于IEC61000-4-5 8 /20μs標準，進行電源，驅動PCB，通信系統(tǒng)，LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測試。
進行晶圓，封裝和PCB級的浪涌脈沖敏感度測試。
10 /1000μs波形的晶圓，封裝，PCB和系統(tǒng)級浪涌敏感度和抗擾度測試。
| 參數(shù) | LVS-500-8/20 選項 | LVS-500-10/1000 選項 | 單位 |
| 輸出電壓（開路負載） | 1 – 500 | 1 – 500 | V |
| 輸出電流（短路負載） | 0.5 – 250 | 0.12 – 55 | A |
| 輸出精度 | ± 5 % | ± 5 % | % |
| 輸出電阻 | 2 ± 10% | 9 ± 10% | ? |
| 短路電流波前時間 | 8 ± 20 % | 10 – 40 % | µs |
| 短路電流半峰值時間 | 20 ± 20 % | 1000 +20 % | µs |
| 開路電壓波前時間 | 1.2 ± 30 % | 10 – 40 % | µs |
| 開路電壓半峰值時間 | 50 ± 20 % | 1000 +50 % | µs |
| 尺寸 | 347 X 300 X 145 | mm | |
| 重量 | 12 | kg | |
| 電壓探頭 | 無源電壓探頭, 101:1 | ||
| 電流探頭 | 無源電流探頭, 0.1 V/A | ||
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