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紫外可見分光光度計 可見分光光度計 型號：UV759
● 特點和功能:
自動調整0%和*，可直接消除比色皿配對誤差。
設計*的光學系統，高性能1200條/mm光柵和進口接收器確保儀器有優良的性能指標。
儀器采用128*64位點陣式漢化液晶顯示器，顯示清晰，可直接顯示標準曲線和測試數據。
精確的2nm的帶寬，使測試數據更加準確可靠。
插座式氘燈、鎢燈設計，換燈免光學調試。
長壽命進口光源，切換迅速；進口的光電轉換器使儀器靈敏度更高
具有全波段掃描、分波段掃描、動力學時間掃描、濃度直讀、線性回歸以及GOTOλ等各種高級功能
二、 UV759/ 759CRT紫外可見分光光度計的特點：
波長驅動：自動
吸光度范圍：-0.3-3A
波長范圍：190-1100nm
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
波長準確度：±0.3nm
穩定性：±0.0005A/h@500nm
光譜帶寬：1.8nm
透色比準確度：±0.35%T
透色比重復性：0.1%T
透色比范圍：0.0-200%T
顯示方式：128*64位點陣液晶顯示
通訊方式：USB接口
打印機：支持
分析軟件：支持
 | 產品名稱： X熒光分析儀 產品型號：CIT-3000SMD(A) |
X熒光分析儀型號：CIT-3000SMD(A)
一、應用領域該儀器是專門為黑色冶金、礦山樣品分析行業打造的一款針對性強的分析儀器，對原礦、精礦、尾礦、燒結礦、球團礦、爐渣、生鐵、石灰石等許多樣品可進行多元素快速檢測。
二、性能特點：
♦樣品平臺自動升降，工作十分方便；
♦樣品盤自動旋轉，測量面積更大，并能大限度的消除顆粒誤差和不均勻誤差；
♦抽真空測量，可以更大限度的提高測量元素的檢測限，有利于金屬測量以及其他輕元素測量；
♦模塊化設計理念，保證了儀器后續的高擴展性；
♦采用低功率X光管端窗前直徑更大，對樣品具有更好的激發效率；
♦更良好的 Superfast SDD 電制冷半導體探測器，分辨率和計數率更高，有利于要求更高或更復雜的樣品分析。
三、儀器技術指標(1)測量范圍：1-40kev；
(2)可分析元素范圍：Na-U；
(3)分析含量范圍：1ppm-99.99%；
(4)分辨率：優于127Ev；
(5)低檢出限：Pb≤5ppm；
(6)工作環境溫度：0-40攝氏度；
(7)工作環境相對濕度：≤80% （不結露）
(8)測量時間：10-2550s(時間可調）
(9)輸入電源：AC 220V ±10%，50HZ；
(10)額定功率：300W；
(11)探測器類型：更良好的 Superfast SDD 探測器；
(12)500萬像素的CDD攝像頭，可有效的實現觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，可作為檢測報告的組成部分；
(13)儀器尺寸：600(W) *570(D) *570(H)mm
(14)樣品腔尺寸：樣品腔：300*300*100 mm
(15)重量：約100Kg
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