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| 應用領域 | 電子/電池 |
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詳細：主要技術指標
123 dB 的動態范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
產品簡介
詳細介紹
E8362C PNA 系列微波網絡分析儀,10 MHz 至20 GHz
詳細：主要技術指標
123 dB 的動態范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
描述
可進行通用網絡分析，并可使用可選的軟件和/或硬件定制分析解決方案，以滿足您的應用需求（例如多端口、脈沖射頻等）。
Agilent E8362C特色與規格：
頻率范圍10 MHz - 20 GHz的
123 dB的動態范圍和<0.006 dB的跡線噪聲
<26微秒/點的測量速度，32個通道，20,001點支持
TRL / LRM校準，晶圓，夾具，波導，和天線測量
混頻器轉換損耗，回波損耗，隔離和群時延
放大器增益壓縮，諧波，IMD，和脈沖射頻
頻率精度+ / - 1ppm的
頻率分辨率1 Hz
輸出功率范圍-25分貝至+ 2 DB - 25 dB到-10 dB
輸出分辨率0.01分貝
型微波元網絡分析儀
主要特性與技術指標：
123 dB 的動態范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
Agilent E8362C描述：
可進行通用網絡分析，并可使用可選的軟件和/或硬件定制分析解決方案，
以滿足您的應用需求（例如多端口、脈沖射頻等）。
E8362C PNA 系列微波網絡分析儀,10 MHz 至20 GHz