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詳細摘要： 日立偏振塞曼原子吸收分光光度計,創新永無止境!ZA3700系列是一款新型石墨爐原子吸收分光光度計，在確?；拘阅埽ɡ纾焊呔群透哽`敏度）的前提下，采用其他原子...

詳細摘要： 自1962年日立開發出第一代KLA型氨基酸分析儀以來，經過56年的時間，歷經KLA型、KLA-5型、835型、L-8500型號、L-8800型號、L-8900六...

詳細摘要： Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀?？郯鈾C后一秒即會顯示結果。且產品使用激光誘導擊穿光譜技術 （LIBS），您無需擔心X射線的影響。無論您的業務...

詳細摘要： 我們的DSC（差示掃描量熱儀）被廣泛用于材料表征。 例如熔點，玻璃化轉變，結晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物，制藥，化學，石油和天然氣，食品和金屬等行業的...

詳細摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結構，消除了受加熱爐溫度變化影響而導致的微小重量誤差，讓基線穩定性水平遠超日立原有產品。在加熱爐內未放置試樣...

詳細摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化...

詳細摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應用中保證質量...

詳細摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化...

詳細摘要： 概要：對應環境限制物質管理、可快速且簡單測量有害物質的X射線熒光分析儀。

詳細摘要： 微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供...

詳細摘要： 束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易...

詳細摘要： FT160配置部件，可以提供精細結構上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳...

詳細摘要： 精工是水平雙臂式TG/DTA技術的，EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價比贏得了包括清華大學、北京大學、中科院、索尼、普利斯通等國內外眾多用戶的青睞...

詳細摘要： 日立高新針對RoHS 2.0指令中的1 0 種限制使用物質的分析解決方案。

詳細摘要： 概要：傳統的TMA相比，靈敏度提高了2倍。因為是沒有形狀制約的全膨脹方式，無論是薄膜或碎片樣品都可以測定。另外，只須更換探針就可以完成壓縮、針入、拉伸測量模式。...

詳細摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結構，消除了受加熱爐溫度變化影響而導致的微小重量誤差，讓基線穩定性水平遠超日立原有產品。在加熱爐內未放置試樣...

詳細摘要： EA8000是，與X射線、CT、X光照相同原理通過X射線透射圖像捕捉樣品中的金屬異物，再通過熒光X射線分析使元素清晰化的異物分析裝置。所謂的熒光X射線分析，是指...

詳細摘要： 通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能，可以對微小異物進行快速掃描和檢查，也可對電子基板等復合材料制品的微小特定部位實施定點測量。

詳細摘要： 「EA1200VX」沿用了新精工電子納米科技有限公司自行開發的高計數率（能檢測大量X射線的能力）檢測器「Vortex」，具有更高的靈敏度和分辨率。適用于RoHS...

詳細摘要： NexION 1000G等離子體質譜儀采用業界三組四極桿組成的串級電感耦合等離子體質譜平臺，確保有效去除質譜和非質譜干擾的同時，保證儀器的簡單易用性和異乎尋常的...