Thick800A X熒光鍍層測厚儀_天瑞儀器

  技術指標 鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同） 
重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層 
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
SDD探測器：分辨率低135eV
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃ 
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

 Thick800A X熒光鍍層測厚儀_天瑞儀器用領域  廣泛應用電子電器、五金工具、PCB板、半導體封裝、汽車空調扁鋁片等企業，同時在金銀飾加工、電鍍行業也得到廣泛應用。