X光測厚儀Thick800A,天瑞儀器 1 分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
無損：
測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：
實時譜圖，可直觀顯示產品測試點
簡易：
對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
性價比高：
相比其他類類儀器，X光測厚儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。

  X光測厚儀Thick800A,天瑞儀器應用領域
X光測厚儀主要針對金屬鍍層（鍍金，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等）厚度測試，廣泛應用于線路板、五金工具，汽車配件，電子連接器，高壓開關，衛浴等企業中，得到了客戶的廣泛應用和認可。

技術參數
重量：90 kg
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩定性高
度適應范圍為15℃30℃
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

X光測厚儀的工作原理是利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。X光測厚儀清晰明了,簡單易學，備受客戶青睞。
檢測實例
以下使用Thick800AX光測厚儀對銅鍍鎳樣品實際檢測Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖