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產品簡介
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鄰苯二甲酸酯檢測儀1是電工委員會(IEC)制定的關于電子電氣產品中限用有害物質的測試方法。IEC 62321: 2008是一個‘獨立’的標準，其中包括介紹，測試方法，機械制樣的概述，以及各種測試方法的條款。2013年5月17日開始將IEC 62321: 2008拆分為一系列標準，同時導入新的測試方法或儀器。
鄰苯二甲酸酯檢測儀1新更新系列標準
2017年
● IEC 62321-7-2
通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻
主要變化：采用有機溶劑從樣品中提取六價鉻
● IEC 62321-8
通過GC-MS或Py/TD-GC–MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯
主要變化：新增章節，針對7項鄰苯提出兩種測試方法
待發布系列標準
2017年
● IEC 62321-4 am1 1.0
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞
● IEC 62321-9 1.0
通過HPLC-MS測定高分子材料中的六溴環十二烷
2018年
● IEC 62321-3-2 2.0
使用C-IC對聚合物和電子產品中的氟、溴、氯進行篩選
● IEC 62321-3-3 1.0
使用PY-GC-MS、TD-GC-MS對聚合物中的多溴聯苯、多溴二苯醚、特定鄰苯二甲酸鹽進行篩選
● IEC 62321-10 1.0
通過GC-MS測定聚合物和電子材料中的多環芳烴
注: C-IC 燃燒離子色譜法
PY-GC-MS 熱裂解氣相色譜質譜聯用儀
IAMS 離子附著質譜法
TD-GC-MS 熱脫附氣相色譜質譜聯用儀
已更新系列標準
2013年
● IEC 62321-1
簡介和概述
主要變化：基本*
● IEC 62321-2
樣品的拆卸、拆解和機械拆分
主要變化：基本*
● IEC 62321-3-1
電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴的篩選
主要變化： 基本*
● IEC 62321-3-2
使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選
主要變化： 2013版增加了新的方法（C-IC）
● IEC 62321-4
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞
主要變化：2013版增加了新的方法（熱解析金汞齊化系統）
● IEC 62321-5
使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物和電子材料中的汞、鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛
主要變化：2013版增加了總鉻的測試要求及新的檢測方法（AFS）
2015年
● IEC 62321-6
使用GC-MS、IAMS和HPLC測定聚合物和電子材料中的多溴聯苯和多溴二苯醚
主要變化：2015版增加了新的檢測方法（IAMS/HPLC）
● IEC 62321-7-1
通過比色法測定金屬無色和有色防腐鍍層中六價鉻
主要變化：關于六價鉻的前處理及上機測試部分未做改動，對結果的陰性陽性判定基準改為小于0.1μg/cm2陰性、大于0.13μg/cm2陽性、
0.1μg/cm2~0.13μg/cm2不確定
GC-MS 6800是天瑞儀器精心打造的一款高性價比氣相色譜質譜聯用儀，具有*的自主知識產權，擁有多項技術，可廣泛應用于工業檢測、食品安全、環境保護等眾多領域。
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