目錄:深圳市善時儀器有限公司>>進口鍍層測厚儀>> iEDX-150WTPCB鍍層測厚儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 | SDD探測器 | 125eV |
| 操作臺 | 全自動三維操作平臺 | 輻射豁免 | 國家輻射豁免證書 |
一、iEDX-150WT型PCB鍍層測厚儀主要參靈數：
1、多鍍層，1～5層；
2、測試精度：0.001 μm；
3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
4、測量時間：10~30秒；
5、SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；
6、探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；
7、微焦X射線管50KV/1mA，鉬、鎢、銠靶；
8、標配6個準直器及多個濾光片自動切換；
9、XYZ軸全自動三維移動平臺，荷載為5公斤；
10、高清CCD攝像頭，精確監控位置；
11、多變量非線性去卷積曲線擬合；
12、高性能FP/MLSQ分析；
13、儀器尺寸 830×475×385mm；
14、平臺XY移動范圍192×250mm；
15、中、英、韓文可切換軟件操作界面；
16、可選配其它準直器。
二、圖譜界面：
1、軟件支持無標樣分析；
2、開放式大分析平臺；
3、可自動連續多點分析；
4、開放式可編程；
4、集成了鍍層分析界面和合金成分分析界面；
5、采用多種光譜擬合分析處理技術，正宗FP法；
6、提供MES數據端口；
7、可外接掃碼槍；
三、分析報告結果：
1、直接打印分析報告
2、報告可轉換為PDF，EXCEL格式
四、iEDX-150WT型PCB鍍層測厚儀樣品分析圖譜：
五、測試結果界面：
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