目錄:杭州精兢檢測儀器有限公司>>精兢金相顯微鏡>>顯微鏡>> IE200M倒置金相顯微鏡
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 醫療衛生,食品/農產品,化工,生物產業 |
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IE200M倒置金相顯微鏡 操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
IE200M倒置金相顯微鏡是一款專為材料微觀分析設計的高性能儀器，廣泛應用于金屬、合金、陶瓷、地質礦物等領域的金相組織觀察與分析。其倒置式設計突破傳統正置顯微鏡的局限，支持大尺寸、重載樣品的檢測，尤其適合工廠實驗室和科研場
光學系統
有限遠色差校正系統：確保高分辨率成像，物鏡與目鏡組合優化，減少色差，提升圖像清晰度
落射柯拉照明：配備可變孔徑光闌和中心可調視場光闌，支持LED或鹵素燈照明，光強連續可調，適應不同樣品需求
調焦與載物臺
低手位粗微調同軸機構：粗調行程38mm，微調精度0.002mm，操作便捷且穩定性高
大尺寸機械移動平臺：180×155mm載物臺，行程75mm×40mm，支持右手位控制，適合高效樣品定位
觀察與成像
三目觀察筒：45°傾斜設計，瞳距調節范圍54-75mm，分光比80:20，支持目視觀察與攝像同步
攝像擴展：兼容0.5X/1X攝像接筒、C型接口，可連接數碼相機或金相分析軟件，實現圖像采集與分析
| 參數類別 | 詳細規格 |
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| 放大倍數 | 50×～500×（物鏡組合：5X、10X、20X、50X；目鏡PL10X/18mm） |
| 偏光功能 | 支持起偏鏡和檢偏鏡360°旋轉，滿足偏光分析需求 |
| 照明系統 | 6V30W鹵素燈/單顆5W LED燈，寬電壓（90V-240V）自適應 |
| 測微尺 | 格值0.01mm/1mm，支持精密測量 |
材料分析：金屬熱處理組織檢測、鑄件質量鑒定、半導體硅晶片缺陷分析
科研教學：高校金相實驗、地質巖相研究、生物醫學微觀結構觀察
工業檢測：精密工程測量、涂層表面分析、高分子材料微觀結構評估
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