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智能卡扭曲測試儀主要用于RFID電子標簽抗扭曲性能的檢測和少量電子標簽抗彎曲應力性能的檢測。
智能卡扭曲測試儀主要技術參數要求：
1）扭曲度： ±15°±1° 雙向d=86 mm，正反向各15°，總扭曲角度30°
2）長邊大位移量：70mm（±1 mm）
3）長邊小位移量：40.375mm±0.50mm
4）短邊大位移量：30mm（±1 mm）
5）短邊小位移量：23.3mm（±1 mm）
6）支持標準： Q/GDW 1893-2013
7）測試速度： 30r/min,0.5Hz
8）測試周期： 1~9999次
用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
