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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子/電池 |
|---|---|---|---|
| 光學視角檢測儀 | 近紅外光源測量 |
光學視角檢測儀—近紅外光源測量
低成本和緊湊的3D成像技術在人臉識別、機器視覺或激光雷達等各種應用領域的巨大發展，對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下，為了獲得精確的三維圖像，必須對其所有角度孔徑范圍內的光源發射特性進行精確表征和快速測量。
光學視角測試儀VCProbe-NIR-STG是為近紅外中發光的DUT分析而優化的。 光學視角測試儀VCProbe-NIR-STG的設計是為了精確測量泛光照明器件、立體成像、結構光照明器件的特性。
光學視角測試儀VCProbe-NIR-STG是測量小孔徑近紅外源的理想工具，并為近紅外源如LED和激光器提供了一個有效的測量解決方案。
該系統可以在±70°視角錐內獲得完整的地圖，具有良好的角度分辨率，工作距離為4mm，允許非接觸式測量。
推薦用于2.5 mm初始光瞳發射器。
DXY +/- 1mm的重復誤差優于1%的位置，便于在線定位。
光學視角檢測儀VCProbe-NIR-STG校準波長為940 nm，可用于研發和批量生產/質檢應用，實現高速和精確的測量。
光學視角測試儀VCProbe-NIR-DSD是專門為精確測量近紅外源的小孔徑而設計的。該系統可以測量激光雷達、閃光激光雷達、激光二極管和VCSEL等各種光源。
該系統具有非接觸式測量，在一次測量中，產生±32°的視角，提供了顯著的0.05°的角度分辨率。
這是一個為單個VCSEL優化的系統，工作距離為40mm。光學視角檢測儀VCProbe-NIR-DSD允許高速和精確的測量應用研發以及批量生產/質檢。
光學視角測試儀型號規格：
| 規格 | VCProbe-NIR-STG | VCProbe-NIR-DSD | ||
| STG-1 | STG-2 | |||
| 波長 | 絕對強度 | Calibrated at 940 nm(*) | Calibrated at 850 nm - 905 nm - 940 nm | |
| 視場角 | 入射角 | ±70° | ±32° | |
| 方位角 | 0-360° | 0-360° | ||
| 工作距離 | \ | 3.2 mm | 4 mm | 40 mm |
| 性能 | 光學分辨率 | 0.05° | 0.03° | |
| 線性化數據 | \ | 2801*2801 pixels | ||
| 光闌尺寸 | 樣本優化 | \ | 0.5mm / 1mm / 2.5mm | |
| 聚焦距離 | \ | 100mm | 1000mm | |
| 精度 | 輻射 (W/sr/m2) | ±2% | ±2% | |
| 功率(W) | ±1% | ±1% | ||
| 節拍時間 | 曝光時間 | 300ms - 30 s | 300ms - 30s | |
| 處理傳輸時間 | Less than 1 s | Less than 1 s | ||
| 可選 | 近紅外發射體脈沖同步、速率和寬度測量 | |||
| 溫度穩定的傳感器 | ||||
光學視角檢測儀—近紅外光源測量
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