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當前位置：上海富瞻環保科技有限公司>>分析儀器>>色譜、質譜、光譜、波譜>> 02美國PHI 高性能飛行時間二次離子質譜儀
TOF-SIMS 中，根據分子結構反映的質譜，能更詳細的對化學結構進行分析。
產品介紹：
01. TRIFTTM 三次聚焦分析儀適用於無論是平面或非平面及形狀復雜的樣品
02. 革新的離子以實現高精度的測量
03. 多種濺射離子實現三維成像的深度分析
04. SmartSoft™-TOF 軟件，使得樣品分析操作更簡單容易
05. 多功能樣晶處理
06. 雙束電荷中和
化學結構進行分析。
測量之后，任伺區域的質譜都可以在後數據處理時提取出來。
TOF-SIMS 中，經過反復測量和濺射，得到深層的結構。
這段期間內，所有的質譜都會被保存，完成測量后，任意深度的質譜都可以在後數據處理時提取出來。
深度概況的數據源于在深度改變時樣品結構的變化，在進行完深度分析後不僅可以擁有內部的信息，
三維構筑的信息也可以得到。
提供了兩種類型的標準樣晶托，有直徑25mm ，樣晶在樣晶托背面安裝并固定( Back-mount) ，
能放個樣品的樣品托，方便對準樣晶高度。也有直接在樣晶托正面安裝樣晶，可放置和樣晶托一般
用液氮冷卻和用加熱器加熱樣晶臺，在-150t 200t 之間可控。樣晶托上配有溫度感應裝置，當樣晶
在進樣室開始，軟件即馬上顯示實時溫度回讀。另外也可以選配比較高可達600t只做加熱的樣晶托。
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