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硅片表面形貌測量

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號VIT系列

品       牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2023-05-24 16:24:24瀏覽次數(shù):432次

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NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
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硅片表面形貌測量VIT系列

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3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測量
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Thin wafer metrology 晶圓測量學(xué)
Film Adhesion漆膜附著力測試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
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