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X射線鍍層測厚儀?M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數2...
鍍層測厚儀M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）-92號（鈾）中的元素。分...
反射膜厚儀當一束光入射到薄膜表面時，薄膜上表面和下表面的反射光會發生干涉，干涉的發生與薄膜厚度及光學常數等有關，反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。
美國DEFELSKO POSITECTOR 200B/A超聲波涂層測厚儀是直接測量，無需校準即可滿足大部分應用的超聲波涂層測厚儀。
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