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JFY3010A光耦參數(shù)測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確、操作簡單、使用安全方便,電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測。

光耦參數(shù)測試儀型號：JFY3010A

JFY3010A光耦參數(shù)測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確、操作簡單、使用安全方便,電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測。
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數(shù):

參數(shù)指標(biāo)表:

參數(shù)項	測試參數(shù)	測試條件設(shè)置
輸入正向壓降(VF)	0-2.000V	0-400MA
耐壓(BVCEO)	0-1200V	0-2.000MA
傳輸比(CTR)	0-3000	VCE:0-20V IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)	0-2.000V	IF:0-400MA IC:0-2.00A
輸出漏電流(Iceo)	0-1mA	VCE=20V
輸入反向漏電流(IR)	0-1mA	VR=4V

JFY3010A光耦參數(shù)測試儀