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低成本的臺式壽命測量系統，可在不同的制備階段表征各種不同的硅樣品，沒有內置的自動化?？蛇x配手動z軸，用于厚度在156毫米以下的晶錠。結果可視化的標準軟件。
MDPspot包括一個額外的電阻率測量選項。電阻率測量僅適用于硅，可用于沒有高度調整可能性的晶圓片，也可用于晶錠。須預定義這兩個選項之一。
· 無接觸破壞的電子半導體特性
μ-PCD測量選項
外延片不可見的缺陷和檢測的靈敏度的可視化
集成多達四個激光器適用于一個廣泛的注射水平
獲取單一瞬態的原始數據以及用于特殊評估目的的圖
· 用于不同制備階段，從成體到終器件，多晶硅或單晶硅單點測量載流子壽命的臺式裝置。
· 體積小，成本低，使用方便。擁有一個基本的軟件，結果可視化。
適用于晶圓片到晶錠，易于高度調整。
樣品 | 不同的處理步驟，如鈍化或擴散后的單晶或多晶硅晶圓、晶錠、電池、晶圓 |
樣品尺寸 | 50 x 50 mm2 到12“ 或210 x 210 mm2 |
電阻率 | 0.2 - 103 Ohm cm |
材質 | 硅晶圓，晶錠，部分或全部加工晶圓，復合半導體和更多其它類型 |
檢測性能 | 載流子壽命 |
尺寸 | 360 x 360 x 520 mm，質量：16 kg |
電源 | 110/220 V, 50/60 Hz, 3 A |
其它細節
· 允許單片調查
不同種類的晶圓片有不同的菜單
監控材料、工藝質量和穩定性
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