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當(dāng)前位置：北京歐屹科技有限公司> 供求商機> PA-300-MT-相位差/應(yīng)力雙折射測量儀PA-300-MT
相位差/應(yīng)力雙折射測量儀 PA-300-MT 是Photonic lattice公司傾力打造的測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米，以其技術(shù)光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計制造，得到每樣品僅需幾秒鐘的測量能力，是工業(yè)界優(yōu)選。
相位差/應(yīng)力雙折射測量儀PA-300-MT?主要特點：
相位差/應(yīng)力雙折射測量儀PA-300-MT應(yīng)用領(lǐng)域：
主要技術(shù)參數(shù)：
| 項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
| 4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm（西格瑪） |
| 6 | 視野尺寸 | 17.5x21mm到33x40mm（標(biāo)準） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 6.3x7.5mm |
| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制 |
測量案例：
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