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全自動晶圓檢查系統

閱讀:243        上傳時間:2023/03/06

半導體晶圓裝載機系列,能夠將直徑為6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的晶圓轉移到顯微鏡上。支持半導體晶圓前圖案側、后周邊和中心區域檢測。可自動或手動設置晶圓旋轉速度和傾斜角度。

?  高效、安全的全自動晶圓傳送

?  適用于不同尺寸:2~8英寸晶圓,實現6/84/62/4兼容,12英寸晶圓

?  適用于不同材料:

1,2,3代半導體材料

Silicon / SiC / GaAs / GaN / InP

透明/非透明材質

Lithium Niobate Wafer/Sapphire Wafer

?  適用于不同材料:不透明、半透明、全透明半導體材料

?  適用于不同厚度:150um~1000um

?  適用于不同類型:FlatNotchMark、雙平邊

?  大尺寸觸控屏幕,中文/英文操作界面,操作簡單、易學易用

?  光學微觀檢測:德國Leica光學系統…

?  可選配多種軟件/硬件功能模塊,適應不同的應用需求

?  可選配AI/AOI智能檢測模塊

?  可選配全自動Auto Review /Defect檢查功能組合


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