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產品簡介
高產能 8“ 檢查及缺陷分析系統 - Leica DM8000M徠卡 DM8000 M 提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 （OUV, 隨檢UV 選擇） 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。
詳細介紹
為您帶來的優勢
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視野擴大四倍以上宏觀放大功能 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。 | 極限分辨率全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。 |
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人機工程學設計非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。 | LED 照明內置一體化的 LED照明 達到了*的空氣環流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。 |