DeFelsko NAS1-E陽極氧化膜測厚儀PosiTector6000
DeFelsko NAS1-E PosiTector 6000 NAS1標準涂層測厚儀
Defelsko NAS1-E PosiTector 6000包括一個標準量具體和一個可移動的NAS探頭，用于測量有色金屬基材上的薄膜非導電涂層。 適用于陽極氧化鋁。
█快速模式 - 快速檢測速度更快
█Hi-Lo限制 - 當測量值超出限制時，發出聲音和可見警報
█統計 - 在測量時即時計算平均值，標準偏差，zui小/zui大厚度和讀數
儀器選擇
選擇基材
F - 用于黑色金屬（鋼鐵和鑄鐵）
N - 用于有色金屬（鋁，銅等）
FN - 適用于所有金屬基材 - 量具自動識別基材并進行測量
選擇標準或功能
標準模型
包含所有規格特性下的所有功能
嗨對比可逆彩色液晶顯示器
存儲250個讀數 - 存儲的讀數可以被查看或下載
模型
- 包含所有規格特性下的所有功能
- 屏幕批量注釋 - 使用新的內置鍵盤添加注釋，更改批次名稱等等
- 嗨對比可逆彩色液晶顯示器
- 可存儲100,000個讀數，zui多可存儲1,000個批次和分批次
- 屏幕幫助，實時圖形，圖片提示和批注
- 數據通過USB傳輸到PC或通過藍牙無線技術傳輸到PC或打印機
- 掃描模式 - 在不抬起探頭的情況下連續讀取數據
- 多個存儲的校準調整，用于在各種基板條件下進行測量
- SSPC PA2功能可確定大面積上的薄膜厚度是否符合用戶的要求
- zui小/zui大水平
- PSPC 90/10功能確定涂層系統是否符合IMO性能標準
- 用于保護涂層
- 新的WiFi功能允許用戶無線...
- 將存儲的測量數據與PosiTector.net同步
- 保持你的PosiTector與的功能和的
- 連接到位于WiFi網絡上的所有PosiTector儀器，瀏覽存儲的測量結果，
- 更新批量名稱/備注，捕獲照片等等
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