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牛津- CMI760
CMI760產品標準配備了用于解釋測試數據的統計軟件包。我們的設備支持客戶服務團隊和保修政策。 SRP-4探頭：SRP探頭采用良好的微電阻測試方法技術。該探頭測量作為電阻的函數的厚度，其中獲得可靠的讀數，而與印刷電路板的相對側上的層壓板厚度和/或銅電鍍無關。

牛津 - CMI760

 

PCB通孔和銅表面測量儀 - CMI760
CMI760 PCB通孔和銅表面測量表是專為PCB電子制造商設計的臺式涂層厚度計。
高度通用的CMI760涂層厚度計專為需要快速，簡便，準確和重復的PCB板通孔測量以及剛性，柔性，單面和雙面或多層銅鍍層測量而設計PCB板。

CMI760產品由（用于表面銅應用）
•量規：CMI760
•SRP-4探頭
•一個SRP-4替換探頭
•兩個NIST可追溯校準標準

可選配件
（用于電鍍通孔應用）：
•ETP探頭
•TRP探頭
•SRG軟件

CMI760產品標準配備了用于解釋測試數據的統計軟件包。我們的設備支持客戶服務團隊和保修政策。 SRP-4探頭：SRP探頭采用良好的微電阻測試方法技術。該探頭測量作為電阻的函數的厚度，其中獲得可靠的讀數，而與印刷電路板的相對側上的層壓板厚度和/或銅電鍍無關。 SRP-4具有用戶可更換的探頭提示（正在申請）。磨損的探針可以在現場快速方便地更換，從而zui大限度地減少停機時間。更換探針是替代整個探頭的更經濟的替代方案。 CMI760標配一個更換探頭。額外的探頭提示可以在三個框中。此外，該系留式探頭具有堅固的電纜，占地面積小，便于使用。

附件亮點ETP PROBE：

ETP探頭采用渦流測試方法技術。渦流測試方法表明印刷電路板通孔內部的銅涂層厚度是否符合要求。探頭設計用于產生準確的讀數，無論板的中間層如何。即使使用錫和錫/鉛抗蝕劑，它們在蝕刻之前和之后的雙面和多層板上也同樣適用。此外，具有ETP探頭的CMI760儀器具有溫度補償技術，可在板從電鍍槽中提起后立即測量電鍍通孔銅。

TRP探頭：
使用TRP探頭，可以擴展CMI760，以測量鍍銅厚度以及通孔質量。該的36點測量系統通過檢測裂紋，空隙和不均勻電鍍的存在來提供質量（Q）的值，僅可從牛津儀器公司獲得。金字塔經過精密加工，以確保電鍍通孔應用的準確性和可重復性。