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島津公司的異物自動分析系統（紅外顯微鏡）AIM-9000 采用將微小部分作為測定目標的光學設計，可以在短時間內獲得微米級異物的清晰光譜。本文向您介紹使用本系統對光學元件表面附著的約10μm微小異物進行測定的示例。
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采用紅外顯微鏡AIM-9000 進行掃描和識別
閱讀：382 發布時間：2017-02-07
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島津企業管理（中國）有限公司
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島津公司的異物自動分析系統（紅外顯微鏡）AIM-9000 采用將微小部分作為測定目標的光學設計，可以在短時間內獲得微米級異物的清晰光譜。本文向您介紹使用本系統對光學元件表面附著的約10μm微小異物進行測定的示例。