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美國CalMetrics鍍層測厚儀錫校正片
品牌： Calmetrics 產地：美國 型號：Ni-P / XX
美國CalMetrics鍍層測厚儀錫校正片(standard)，標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證，都是美國原廠制作標準片的專業認證公司。
特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩定性好、價格實惠。
奔藍科技昆山分公司是美國Calmetrics國內一級代理商，附有美國Calmetrics公司頒發的代理證書。測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
以下是美國CalMetrics鍍層測厚儀錫校正片部分規格（可根據您的要求特別訂制）：
錫(Sn/XX) 14種常用規格：
CSSN4 | 4u” | 0.10um |
CSSN10 | 10u” | 0.25um |
CSSN20 | 20u” | 0.50um |
CSSN40 | 40u” | 1.00um |
CSSN80 | 80u” | 2.00um |
CSSN200 | 200u” | 5.00um |
CSSN400 | 400u” | 10.0um |
CSSN600 | 600u” | 15.0um |
CSSN800 | 800u” | 20.0um |
CSSN900 | 900u” | 22.5um |
CSSN1200 | 1600u” | 30.0um |
CSSN1600 | 1600u” | 40.0um |
CSSN2400 | 2400u” | 60.0um |
CSSN3000 | 3000u” | 75.0um |
吳生：151九零一九4078 136零二五五1959
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