首頁 >> 供求商機
德國斯派克分析儀器公司開發出了一種極其成功的技術,把偏振X射線應用于熒光分析。正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種*分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發展這一技術,并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。
SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件,可獲得的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*激發,12位樣品自動交換器,預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
SPECTRO XEPOS配有預先安裝好的應用包,包括:在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析:土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩定性好,可應對歐洲WEEE、RoHS指令。
技術參數:
1.功率50W,zui大電壓50KV,zui大電流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移計數器,分辨率小于170eV
4.3位置次級靶自動轉換系統,即3束X激發光源。
5.可選真空、充氣、常壓系統
主要特點:
1.偏振X光激發樣品,具有極低的背景,的靈敏度
2.真正意義的Na-U的全分析,無需濾光片。
3.分析的含量范圍ppm級到*
4.極為豐富的軟件系統,提供各種方法及校正模式。
5