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當前位置：蘇州日井精密儀器有限公司>>光譜儀>>X熒光光譜儀>> RIJ-686貴金屬分析光譜儀
| 應用領域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
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貴金屬分析光譜儀
蘇州日井精密儀器，于2007年在華東區注冊成立蘇州日井精密儀器有限公司，多年來一直是從事精密量測儀器銷售及配套售后維修服務為一體的精密儀器公司。
產品介紹：
BXR-686 貴金屬分析儀是分析貴金屬成分組成的精密儀器，常用的有化學有損分析儀器和物理無損分析儀器。
鑒于貴金屬本身價格昂貴，不能輕易破壞其外形，故化學有損檢測儀在珠寶行業不被經常使用。而快速、無損的無損檢測儀，廣泛應用于珠寶首飾檢測行業。
BXR-686 貴金屬分析儀是分析貴金屬成分組成的精密儀器，常用的有化學有損分析儀器和物理無損分析儀器。
鑒于貴金屬本身價格昂貴，不能輕易破壞其外形，故化學有損檢測儀在珠寶行業不被經常使用。而快速、無損的無損檢測儀，廣泛應用于珠寶首飾檢測行業。
| 探測器 | 美國Amptek Si-PIN/SDD（可選）探測器，高效脈沖分析系統 |
| 高壓電源 | 美國Spellman 50W（50KV/mA） |
| X射線管 | 50W側窗X射線管 |
| 測量時間 | 30-100S |
| 分析范圍 | 1ppm-100% |
| 樣品腔尺寸 | 310×280×60（mm） |
| 分析精度 | RSD≤0.05% Au≥90% |
| 工作溫度 | 10-30℃ |
| 電源要求 | AC220v±5v,50/60Hz |
| 測試元素 | Au Mn Fe Co Ni Cu Zn Cd Sn Pb Ag |
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