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雙折射（應力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面、 曲面光學的傾斜角度評估。

Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。

雙折射（應力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA利用PEM調制光束的偏振狀態(tài)、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態(tài)。這就導致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結果是90°。利用這些數(shù)據(jù)可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產(chǎn)中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射。