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[供應(yīng)]ZJD-C-介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
產(chǎn)地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號(hào)
更新時(shí)間：2025-06-30 09:43:46
有效期：2025年6月30日 -- 2025年9月30日
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ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
一、概述：
ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀測試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測量技術(shù) -對(duì)測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
二、主要技術(shù)特性：
Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差:≤ 7 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信號(hào)源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段（ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
三、夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調(diào)范圍： ≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率： 0.001mm
四、配置：
主機(jī) 一臺(tái)
電感 九支
夾具 一套
隨機(jī)文件一套
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