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產品分類 品牌分類

產品簡介

Z適合半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究，是功能Z強勁的分光光度系統。
● 高性能的固體，液體，渾濁樣品測試系統。
● 透射，鏡面反射和漫反射都可測試。
● 使用超大樣品艙，樣品Z大可至430 x 430mm，大型樣品測試也無需破壞。
● 紫外區Z低可測至175nm。

詳細介紹

產品介紹：

U-4100紫外/可見/近紅外分光光度計

積分球分光光度計產品專家

半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究，是功能zui強勁的分光光度系統。
●  高性能的固體，液體，渾濁樣品測試系統。
●  透射，鏡面反射和漫反射都可測試。
●  使用超大樣品艙，樣品zui大可至430 x 430mm，大型樣品測試也無需破壞。
●  紫外區zui低可測至175nm。

有四種系統可選：

1) U4100固體樣品測量系統(240-2600nm)
2) U4100大樣品測量系統(240-2600nm)
3) U4100紫外區高靈敏度測量系統(175-2600nm)
4) U4100液體樣品測量系統(185-3300nm)
注意：在發貨以后，各系統之間無法通過升級實現轉換。如果您有特殊需要，可聯絡當地銷售工程師提供定制服務。