MXY4000-4C 電子散斑干涉實(shí)驗系統(tǒng)

一、儀器介紹

  電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗系統(tǒng)主要面向大專院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

二、儀器特點(diǎn)
 結(jié)構(gòu)簡單、精度高、非接觸、靈敏性好、處理信息快、不必暗房操作、實(shí)時顯示全場信息。

三、實(shí)驗內(nèi)容

電子散斑干涉實(shí)驗

四、實(shí)驗配置

   基本配置

   激光器；加熱用電源；CCD攝像機(jī)；圖像采集卡；擴(kuò)束鏡；分束器；二維平移底座；待測物體；通用底座；干板架；白屏；反射鏡等；

自行配置     計算機(jī)；顯示器；打印機(jī)