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[供應]GDAT-A-絕緣介電常數介質損耗因數測試儀
絕緣介電常數介質損耗因數測試儀主要技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率
可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
絕緣介電常數介質損耗因數測試儀測介電常數
調節平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為DO。
再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取新的刻度值，記為D1，這時樣品厚度D2= D1－D0。
選鈕8順時針擰到頭。
開機，按5號鍵或6號鍵選擇電感；按照提示，通過選鈕7調節通道。
按1號鍵（自動）搜索頻率，Q達到zui大，自動鎖定頻率。
（如Q比較小，再次按1號鍵搜索頻率；還可以通過3，4號鍵手動調節頻率找到*諧振頻率）
取出平板電容器中的樣品（切記不要調節頻率），這時Q表又失諧，調節平板電容器，使再諧振（只調節平板電容，不調節頻率，Q再次達到zui大），讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為D4= D3－D0。
被測樣品的介電常數：Σ＝D2 / D4
絕緣介電常數介質損耗因數測試儀主要特點：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
絕緣介電常數介質損耗因數測試儀電感器：
按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。
例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。
絕緣介電常數介質損耗因數測試儀特點：
◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
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